导语

  

内容提要

  

    王国立著的《芯片接口库I\O Library和ESD电路的研发设计应用》理论和实践相结合，首先概略介绍了I/O Library，包括I/O Library在芯片设计中的功能、设计流程等；接着介绍了I/O电路中的ESD现象、ESD的测试方法和多种ESD保护功能模块的设计；然后着重讲解闩锁现象、GPIO的功能电路以及高速I/O电路的电路补偿方法等；最后展望了I/O Library的未来发展。

第1章  I/O Library介绍
  1.1  I/O Library的特征
  1.2  I/O Library的设计流程
  1.3  研究工艺的特点
  1.4  设计测试芯片
  1.5  ESD测试模块
第2章  ESD——I/O Library的第一道墙
  2.1  ESD 现象
  2.2  半导体芯片中的ESD失败现象
  2.3  电路可靠性——ESD测试模型
  2.4  ESD标准测试模型的测试组合
  2.5  ESD标准测试模型的测试误差
  2.6  输入/ 输出管脚ESD器件的设计和布局
  参考文献
第3章  闩锁和保护环
  3.1  闩锁的机理
  3.2  防止闩锁的方法
  3.3  Latch-up的测试方法
  参考文献
第4章  I/O电路设计
  4.1  通用型I/O数据规范和设计
  4.2  传输线现象
  4.3  GPIO的输出模块
  4.4  GPIO的输入模块
  4.5  模拟输入信号
  4.6  混合电压输入/ 输出电路
  4.7  高压容忍电路中的输入/ 输出电路
  4.8  输出电路的布局
  4.9  I/O的电源线分布
  4.10  Bond PAD的位置和布局
  4.11  内核面积决定化和PAD面积决定化
  参考文献
第5章  高速I/O电路
  5.1  电路补偿
  5.2  DDR
  5.3  LVDS
  参考文献
第6章  I/O Library的模型
  6.1  综合模型
  6.2  行为模型
  6.3  IBIS模型
  参考文献
结束语