导语

  

内容提要

  

    王承、刘治国编著的《单板级JTAG测试技术》是一本系统论述单板级JTAG测试技术的专著。内容包括：基于IEEEl 149．1标准的边界扫描测试、可测性设计和测试功能及串行测试矢量；内建自测试和仿真测试；基于IEEEl687标准的集成电路测试技术发展趋势。
    本书适合于从事集成电路开发的工程技术人员阅读，对于电子测量、通信工程和电路系统学科的学生，也有一定的参考作用。

第1章  测试的基本概念
  1.1  数字电路测试
    1.1.1  测试
    1.1.2  测试分类
    1.1.3  数字电路分类
  1.2  故障及故障模型
  1.3  算法
  1.4  测试覆盖率和故障检出率
  1.5  测试矢量
    1.5.1  组合电路的测试矢量生成
    1.5.2  时序电路的测试矢量生成
  1.6  可测性
    1.6.1  可控性
    1.6.2  可观性
    1.6.3  可测性设计方法
第2章  单板级.ITAG测试
  2.1  背景介绍
  2.2  传统单板测试方法的困难
    2.2.1  在线测试
    2.2.2  光学测试
    2.2.3  功能测试
  2.3  生产制造应用
  2.4  JTAG测试技术
  2.5  单板级JTAG测试
……
第3章  IEEE1149.X标准
第4章  单板级边界扫描可测性设计
第5章  边界扫描测试技术应用
第6章  串行矢量格式
第7章  内建自测试技术
第8章  片上仿真测试
第9章  嵌入测试
参考文献